本发明涉及射频信息测试领域,尤其涉及一种射频测试车。
背景技术:
1、微波晶体管为在微波波段工作的晶体管,一般微波波段的频率在300mhz-300ghz。光按频率来区分,微波晶体管的种类就很繁多。
2、由于微波晶体管的种类繁多,在测试微波晶体管时,往往需要更换各种信号源和功率分配器来适应不同种类晶体管的测试,测试装置的适用性差,且功率分配器的通路数需人工调整,测试也不方便。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种射频测试车,其适用广泛,且测试方便。
2、本发明的目的采用以下技术方案实现:
3、一种射频测试车,包括车架和多层设置在所述车架上的测试层,所述测试层包括用于输出各种射频信号的信号源、可调功率分配器、测试台、衰减器和检波器,所述信号源与所述可调功率分配器信号连接,所述可调功率分配器与所述测试台上的被测微波晶体管信号连接,所述微波晶体管与所述衰减器信号连接,所述衰减器与所述检波器信号连接;
4、所述射频测试车还包括用于调整射频参数的信号调整器,所述信号源和所述测试台均与所述信号调整器信号连接。
5、优选的,所述测试台包括用于采样被测微波晶体管参数的传感器,所述信号调整器包括工控机,所述传感器和所述可调功率分配器均与所述工控机电性连接。
6、优选的,所述射频测试车还包括第一电源,所述信号源、所述衰减器和所述检波器均与所述第一电源电性连接。
7、优选的,所述射频测试车还包括显示器,所述信号调整器和所述信号源均与所述显示器电性连接。
8、优选的,所述测试台包括隔板及设置在所述隔板两端的风机。
9、优选的,所述射频测试车还包括第二电源,所述显示器和所述风机均与所述第二电源电性连接,所述显示器与所述工控机信号连接。
10、优选的,所述第二电源包括直流电源、交流电源和接线架,所述直流电源、交流电源均与所述接线架电性连接。
11、优选的,所述信号源上设置有显示屏和把手,所述衰减器上设置有多个散热片,所述检波器为示波器。
12、优选的,所述可调功率分配器包括信号输入口和多个信号输出口,所述信号输入口与所述信号源信号连接,多个信号输出口分别与所述可调功率分配器信号连接。
13、优选的,所述可调功率分配器的射频通路数为l,所述衰减器的数量为m,所述检波器的数量为n,l大于或等于m,m大于或等于n。
14、相比现有技术,本发明的有益效果在于:
15、本申请公开的射频测试车包括用于调整射频参数的信号调整器,该信号调整器能根据被测微波晶体管的参数来调节所述信号源输出对应射频信号给被测微波晶体管,在测试各种微波晶体管时而不需更换或调节信号源,适用广泛。
16、其还包括可调功率分配器,该可调功率分配器能根据微波晶体管的功率参数自动选择相适应的射频通路输出射频信号,而不需要人工调整路数,测试方便。
1.一种射频测试车,其特征在于:包括车架和多层设置在所述车架上的测试层,所述测试层包括用于输出各种射频信号的信号源、可调功率分配器、测试台、衰减器和检波器,所述信号源与所述可调功率分配器信号连接,所述可调功率分配器与所述测试台上的被测微波晶体管信号连接,所述微波晶体管与所述衰减器信号连接,所述衰减器与所述检波器信号连接;
2.根据权利要求1所述的射频测试车,其特征在于:所述测试台包括用于采样被测微波晶体管参数的传感器,所述信号调整器包括工控机,所述传感器和所述可调功率分配器均与所述工控机电性连接。
3.根据权利要求2所述的射频测试车,其特征在于:所述射频测试车还包括第一电源,所述信号源、所述衰减器和所述检波器均与所述第一电源电性连接。
4.根据权利要求3所述的射频测试车,其特征在于:所述射频测试车还包括显示器,所述信号调整器和所述信号源均与所述显示器电性连接。
5.根据权利要求4所述的射频测试车,其特征在于:所述测试台包括隔板及设置在所述隔板两端的风机。
6.根据权利要求5所述的射频测试车,其特征在于:所述射频测试车还包括第二电源,所述显示器和所述风机均与所述第二电源电性连接,所述显示器与所述工控机信号连接。
7.根据权利要求6所述的射频测试车,其特征在于:所述第二电源包括直流电源、交流电源和接线架,所述直流电源、交流电源均与所述接线架电性连接。
8.根据权利要求1所述的射频测试车,其特征在于:所述信号源上设置有显示屏和把手,所述衰减器上设置有多个散热片,所述检波器为示波器。
9.根据权利要求1所述的射频测试车,其特征在于:所述可调功率分配器包括信号输入口和多个信号输出口,所述信号输入口与所述信号源信号连接,多个信号输出口分别与所述可调功率分配器信号连接。
10.根据权利要求1所述的射频测试车,其特征在于:所述可调功率分配器的射频通路数为l,所述衰减器的数量为m,所述检波器的数量为n,l大于或等于m,m大于或等于n。