显示屏闪烁测试方法与流程

本发明涉及显示屏测试领域，特别是涉及一种显示屏闪烁测试方法。

背景技术：

随着手机及平板的显示屏所占的比例越来越大，使得显示屏的显示效果受到了越来越多的重视。为了追求较好的体验效果，用户希望显示屏的视角更宽，对比度更高，屏幕更加清晰，画面flicker(闪烁)更小，由于当画面闪烁变大时，则会直接影响显示屏的清晰度。而当画面闪烁足够小时，则显示屏呈现的画面如一幅静止的画面，用户体验感较好。因此，flicker目前成为一备受关注的指标。

显示屏画面的显示，是通过lcd(liquidcrystaldisplay，简称液晶显示器)中液晶的翻转使光线透过得以实现。而光的透过率与液晶翻转的角度有关，lcd通过液晶的翻转角度来实现一个画面的灰度效果表示。即当显示某个静态画面时，则液晶会保持翻转角度不变。而为了防止液晶被极化，所以实现液晶翻转的电场并不是直流电场，而是正负半周时间相同，幅值相同的交流电场，从而使得液晶在一个交流电场中，保持一个固定的翻转角度，从而控制显示flicker尽可能小。

通常lcd每次完成一帧的扫描，则电场会变换一次，然而在实际情况中，使液晶翻转角度的正负电场，通常无法保证完全一样，而当液晶在这两个电场中的翻转角度不同时，flicker就产生了。为了使得每个显示屏都能够获得最小的flicker，现在各个模组厂都会对生产的每一个显示屏，进行flicker的otp(one-timepassword，也称动态口令)烧录，通过更改vcom电压(公共电压)寄存器的设置，寻找每个显示屏最合适的vcom电压，并将该最佳设置，烧录固化到驱动ic芯片内部。显示屏每次显示均会调用之前烧录的值，以获得该显示屏的最佳flicker。

每个显示屏都需要做这样的烧录，每个显示屏的烧录时间，目前各个模组厂的时间是在18～25s，其中12～15s左右的时间是在寻找最佳vcom电压值的过程中。然而，寻值的范围设置得过小，则可能会造成无法找到最佳值；而寻值范围设置过大，则会造成寻值时间变长；而自适应的寻值范围，容易出现bug，导致寻值异常。而现有技术中无论采用分割法、模拟曲线以及循环找值等寻值方式，其都很难缩短烧录时间。

技术实现要素：

基于此，有必要针对显示屏闪烁测试方法中对于最佳公共电压值寻找时间久的问题，提供一种能够减少寻找最佳公共电压值的时间的显示屏闪烁测试方法。

一种显示屏闪烁测试方法，包括如下步骤：

获取预设的公共电压数组，所述预设的公共电压数组中包含多个公共电压值；

获取所述公共电压数组中采集频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值；

根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值；

将所述闪烁值分别与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比；

当所述闪烁值小于或等于所述第一预设阈值时，则将所述闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上；

当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取多个小于或等于所述第一预设阈值的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片；

当所述闪烁值大于所述第二预设阈值时，则根据所述预设的公共电压数组内的各所述公共电压值分别对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

在其中一个实施例中，所述获取预设的公共电压数组的步骤包括：

基于若干公共电压值分别对显示屏进行屏幕闪烁测试，获得多个闪烁值；

获取闪烁值小于或等于所述第一预设阈值两倍的对应的多个所述公共电压值，根据多个所述公共电压值生成所述公共电压数组。

在其中一个实施例中，所述获取所述公共电压数组中产生频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值的步骤之后还包括：

检测频率最高的所述公共电压值的数量，当频率最高的所述公共电压值的数量为一个时，则将所获取的一个所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上。

在其中一个实施例中，所述获取所述公共电压数组中产生频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值的步骤还包括：

当频率最高的所述公共电压值的数量为多个时，以频率最高的多个所述公共电压值的平均值作为所述预判值。

在其中一个实施例中，所述当所述闪烁值小于或等于所述第一预设阈值时，则将所述闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上的步骤之后还包括：

将所述闪烁值对应的所述公共电压值存入所述预设的公共电压数组。

在其中一个实施例中，所述将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片的步骤之后还包括：

将所述公共电压值存入所述预设的公共电压数组。

在其中一个实施例中，所述显示屏闪烁测试方法还包括：当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则从所述预设的公共电压数组获取所述公共电压值的取值范围，基于所述取值范围以及预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取多个小于或等于所述第一预设阈值两倍的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

在其中一个实施例中，所述显示屏闪烁测试方法还包括：当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取与所述闪烁值对应的两个对称的公共电压值，分别对所述两个对称公共电压值加减电压值，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

在其中一个实施例中，所述显示屏闪烁测试方法还包括：当所述闪烁值大于所述第二预设阈值时，则根据存入所述预设的公共电压数组的顺序，依序从所述预设的公共电压数组获取所述公共电压值，逐一根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，直至获取最小闪烁值，将所述最小闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

在其中一个实施例中，所述显示屏闪烁测试方法还包括：存入所述预设的公共电压数组的所述公共电压值的顺序越靠前，则从所述预设的公共电压数组获取的所述公共电压值的顺序越靠前。

上述显示屏闪烁测试方法，通过在包含多个公共电压值的所述获取预设的公共电压数组中，获取产生频率最高的一个或几个所述公共电压值作为预判值。从而使得寻找最佳公共电压的范围得到有效缩小。并根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值，通过对所述闪烁值与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比得到最小闪烁值所对应的公共电压值。从而使得检测获取最佳公共电压值的时间得到缩短，从而有效提高了检测效率，降低了测试显示屏的屏幕闪烁的时间成本。并且该方法为通用型，可运用于大多数显示屏项目，以减小烧录时间，提高生产效率，降低产品成本。

附图说明

图1为一实施例的显示屏闪烁测试流程图；

图2为另一实施例的显示屏闪烁测试流程图；

图3为一实施例的预设的闪烁值-公共电压值的闪烁曲线图；

图4为一实施例的传统显示屏闪烁测试流程图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“顶部”、“底部”、“底端”、“顶端”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

例如，一种显示屏闪烁测试方法，包括如下步骤：获取预设的公共电压数组，所述预设的公共电压数组中包含多个公共电压值；获取所述公共电压数组中采集频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值；根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值；将所述闪烁值与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比；当所述闪烁值小于或等于所述第一预设阈值时，则将所述闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上；当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取多个小于或等于所述第一预设阈值的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取小于或等于所述第一预设阈值的所述闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片；当所述闪烁值大于所述第二预设阈值时，则根据所述公共电压数组内的各所述公共电压值分别对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取小于或等于所述第一预设阈值的所述闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

例如，如图1所示，一种显示屏闪烁测试方法，包括如下步骤：

步骤110：获取预设的公共电压数组，所述预设的公共电压数组中包含多个公共电压值。

在实际生产中持续地对每一个产品所寻找到的最佳公共电压值进行记录，然后放入一个数组大小自定义的活的数组中。例如，数组大小为1～100，当测试到第101个产品获得一个新的最佳公共电压值，则采用先进先出的原则，将第1个最佳公共电压值取出，放入新的第101个最佳公共电压值，从而使得自定义的数组成为一个有效的动态数组，俗称活的数组。而预设公共电压数组即指包括多个公共电压值的动态数组。

步骤120：获取所述公共电压数组中采集频率最高的至少一个所述公共电压值作为预判值。

由于同一个批次的显示屏，其最佳公共电压值的设定值差别并不大，因此在所述预设公共电压数组中可能会存在多个频率较高的公共电压值，其可能相同的一个公共电压值，也可能是几个频率相同的多个公共电压值。在进行下一个产品的闪烁测试时，则取出其中一个频率最高的公共电压值作为该产品的公共电压值，即为所述预判值，也就是说预判值为下一个显示屏最有可能的最佳公共电压值。

具体地，在确定所述预判值时，例如，检测频率最高的所述公共电压值的数量，当频率最高的所述公共电压值的数量为一个时，则将所获取的一个所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上。也就是说，在预设公共电压数组中出现频率最高的公共电压值只有一个，例如，在1～100数组中，20v出现的频率最高，即将20v作为显示屏的预判值。例如，当频率最高的所述公共电压值的数量为多个时，以频率最高的多个所述公共电压值的平均值作为所述预判值。也就是说，在预设公共电压数组中出现频率最高的公共电压值不止一个的时候，例如，1～100数组中，20v与30v均出现19次，其他公共电压值出现的次数均没达到19次，因此取20v与30v的平均值25v作为显示屏的预判值。

步骤130：根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值。

通过在预设公共电压数组中检测出现频率最高的公共电压值，得到用于检测第101个显示屏的预判值，并采用该预判值进行该显示屏的闪烁测试，得到对应的闪烁值，通过与参考闪烁值进行对比，从而判断所述预判值是否能够作为该显示屏的最佳公共电压值。其中参考闪烁值由不同的客户要求决定，即不同客户对于闪烁值的要求不同，即根据不同客户对闪烁值的要求，以其要求闪烁值为参考闪烁值，只要测试得到的闪烁值不超过该参考闪烁值即表示所得到的公共电压值即为该显示屏的最佳公共电压值。可以理解的是，客户要求的闪烁值，即参考闪烁值为最高闪烁值，即根据预判值得到的闪烁值超出该最高闪烁值，则取得的预判值不能作为该显示屏的最佳公共电压值，需要再次进行最佳公共电压值的寻找。

步骤140：将所述闪烁值与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比，如图2所示。

即在进行显示屏最佳公共电压值的寻找时，可以将上述最高闪烁值进行分段判断，即在第一预设阈值与第二预设阈值范围内进行寻值。例如，以f(max)代表最高闪烁值，其中所述第一预设阈值为50％f(max)，所述第二预设阈值为150％f(max)。即通过输入预判值对显示屏进行闪烁测试时，得到的闪烁值与50％f(max)及150％f(max)进行对比，判断预判值是否能够成为最佳公共电压值。

步骤150：当所述闪烁值小于或等于所述第一预设阈值时，则将所述闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片上。

可以理解的是，当通过预判值得到闪烁值小于或等于50％f(max)，也就是说，测试得到的闪烁值没有超过最高闪烁值f(max)，这样可以直接判断该预判值可以作为该显示屏的最佳公共电压值，也就是说，所述预判值即为所述最小闪烁值。从而可将其作为下一个显示屏的公共电压值而被写入显示屏的驱动芯片上，即将该公共电压值烧录至显示屏的驱动芯片上。同时，例如，将所述闪烁值对应的所述公共电压值存入所述预设的公共电压数组。即在预设的公共电压数组中除去一个值，将所获得的最佳公共电压值写入，继续以该预设的公共电压数组作为有效的公共电压数组，进行取值测试，寻找最佳公共电压值。

步骤160：当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取多个小于或等于所述第一预设阈值2倍的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

即从预设的公共电压数组中取出的预判值，进行第101个显示屏测试时，得到的闪烁值在50％f(max)与150％f(max)的范围内。这样无法确定该预判值是否能够被作为显示屏的最佳公共电压值。此时，通过利用预设的闪烁值-公共电压值的对应曲线图进行判断分析，该曲线属于现有技术中关于闪烁值与公共电压关系的图，可通过测试得到的闪烁值对应地寻找符合小于参考闪烁值，即小于最大闪烁值的公共电压的范围，在该范围内进一步进行闪烁测试，以得到最小闪烁值对应的公共电压，即可作为被测显示屏的最佳公共电压。也就是说，在一个小于所述预设的公共电压数组的数组中，即小范围内找出显示屏的最佳公共电压值。具体如下。

例如，当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，从所述预设的公共电压数组获取与所述第一预设阈值与所述第二预设阈值相对应的公共电压的取值范围，基于所述取值范围内的每个公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取多个小于或等于所述第一预设阈值2倍的闪烁值对应的公共电压值，根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

如图3所示，利用预设的闪烁值与公共电压值的对应关系获得的所述取值范围指的是，在预设的公共电压数组中与50％f(max)对应的公共电压与150％f(max)对应的公共电压之间的公共电压范围，也就是说，所述取值范围指的是一个小于所述预设的公共电压数组的小数组，在小数组中按照传统的寻值方式，即分别一一对该范围内的每一个公共电压值进行闪烁测试，直至寻找到最小闪烁值所对应的公共电压值，作为最佳的公共电压值。例如，预设的公共电压数组范围为1～100，则所述取值范围指的是在1～100范围寻找20～50范围内的公共电压值。分别对该小范围内每个公共电压进行闪烁测试，获取最小闪烁值。

例如，当所述闪烁值大于所述第一预设阈值并小于或等于所述第二预设阈值时，则根据预设的闪烁值与公共电压值的对应关系，获取与所述闪烁值对应的两个对称的公共电压值，分别对所述两个对称公共电压值加减电压值，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

请继续参阅图3，利用预设的闪烁值-公共电压值曲线图进行分析判断，该曲线为类似v型的曲线。一个例子是，所述预设的闪烁值与公共电压值的对应关系为v型曲线，对所述v型曲线进行采样测试，获取不同样品的v型曲线。根据所述不同样品的v型曲线获取每一曲线的最低点。其中不同批次的样品v型曲线差别很小。其中最低点代表最小闪烁值。只要能够确定该最低点便可较为方便地对应寻找到每个样品的最佳公共电压值。

可以理解的是，所述两个对称的公共电压值即表示最低点两侧对称的值。两个所述对称的公共电压为有效取值的肩宽，也就是说，在该肩宽范围内进行加减电压值。例如，分别对所述两个对称公共电压值加减3个、5个或8个等电压值，使得两侧对称的公共电压值最终重合在一起，则重合在一起的电压值即为曲线最低点处的电压，也就是最小闪烁值对应的公共电压值。从而可以较为快捷地寻找到被测显示屏最小闪烁值对应的公共电压值。

步骤170：当所述闪烁值大于所述第二预设阈值时，则根据所述公共电压数组内的各所述公共电压值分别对所述显示屏进行所述闪烁测试，获取最小闪烁值对应的所述公共电压值，并将所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。

即当所述闪烁值大于150％f(max)时，则属于严重不符合要求的闪烁值，此时，需要利用传统的寻值方式进行寻找最佳的公共电压值。而传统的公共电压值的寻值方式为在所述预设的公共电压数组内分别地依次进行闪烁测试，以获得最小闪烁值对应的公共电压值。

例如，当所述闪烁值大于所述第二预设阈值时，则根据存入所述预设的公共电压数组的顺序，依序从所述预设的公共电压数组获取所述公共电压值，逐一根据所述公共电压值对所述显示屏进行所述闪烁测试，直至获取最小闪烁值，将所述最小闪烁值对应的所述公共电压值写入所述显示屏的驱动芯片。例如，所述预设的公共电压数组为1～100，则需要对在此范围内按照数组的分配顺序，例如，采用先进先出的原则，优先对先放入数组的公共电压值进行测试，然后依次的选择每一个公共电压进行闪烁测试，直至获取最小闪烁值。例如，存入所述预设的公共电压数组的所述公共电压值的顺序越靠前，则从所述预设的公共电压数组获取的所述公共电压值的顺序越靠前。即预设的公共电压数组优先被安排进去的公共电压值优先进行闪烁测试，也就优先得到测试后的公共电压值。

例如，如图4所示，在得到最佳公共电压值时，需要再次进行显示屏闪烁测试，若得到的显示效果良好，则输出ok指令，然后将最佳公共电压值烧录至显示屏的驱动芯片内，同时输出被测显示屏ok指令，并更换下一个显示屏进行闪烁测试。若测试得到显示效果不佳时，则输出no指令，将不良产品挑选出。同时对于传统的闪烁测试方法，当无法获得有效的公共电压时，直接将对应显示屏挑选出。挑选出的显示屏为不良显示屏。

上述显示屏闪烁测试方法，通过在包含多个公共电压值的所述获取预设的公共电压数组中，获取产生频率最高的一个或几个所述公共电压值作为预判值。从而使得寻找最佳公共电压的范围得到有效缩小。并根据所述预判值对显示屏进行闪烁测试，获取所述显示屏的闪烁值，通过对所述闪烁值与第一预设阈值以及第二预设阈值进行对比得到最小闪烁值所对应的公共电压值。从而使得检测获取最佳公共电压值的时间得到缩短，一般能够缩短整个otp所需的时间至10s以内，从而极大地减小了otp的烧录时间，特别适合大量生产制造使用。这样从18～25秒缩减为10秒以内，有效节省了时间成本，从而有效提高了检测效率，降低了测试显示屏的屏幕闪烁的时间成本。并且该方法为通用型，可运用于大多数项目，以减小烧录时间，提高效率，降低产品成本。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。