电子元件老化测试装置的制作方法

本发明涉及电子元件测试领域，特别是涉及一种电子元件老化测试装置。

背景技术：

随着电子科技的发展，对于电子元件的稳定性和可靠性要求也越来越高，尤其是应用在航空航天事业中的产品。电子元件产品通过高温电老化测试可以使元器件内部电极的缺陷和隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验，对于提高产品的稳定性和可靠性有很重要的意义。目前，老化试验直接将电子元件焊接在PCB板上，不仅影响了产品外观，且试验后的产品只能丢弃，因此只进行抽样试验，这样的测试只能粗略评估该批次产品性能，达不到真正的目的，无法有效杜绝产品缺陷。

技术实现要素：

基于此，有必要针对上述老化测试需要将电子元件焊接在PCB板上导致损伤产品的问题，提供一种无需将电子元件焊接在PCB板上即可进行老化测试不损伤产品的电子元件老化测试装置。

具体的技术方案如下：

一种电子元件老化测试装置，包括：

载板，所述载板上设有安装槽，所述安装槽的一侧设有用于与电子元件端电极电连接的中间导电板，所述安装槽侧壁上开设有通孔；

侧导向板，位于所述载板的一侧，可相对所述载板移动，所述侧导向板上固设有侧导电针，所述侧导电针的一端可通过所述通孔并伸入所述安装槽，用于与所述电子元件的另一端电极电连接。

在其中一个实施例中，所述侧导电针有多个，并排间隔固设于所述侧导向板上。

在其中一个实施例中，所述安装槽的上方设有可相对所述安装槽移动的上导向板，所述上导向板上固设有用于与所述电子元件的中间电极电连接的上导电针。

在其中一个实施例中，所述安装槽为多个，并排间隔设于所述载板上，所述上导电针有多个，并排间隔固设于所述上导向板上。

在其中一个实施例中，所述中间导电板将所述安装槽分成两列，所述侧导向板的数量为2个，位于所述载板的两侧，所述上导向板的数量为2个，分别位于一列所述安装槽的上方。

在其中一个实施例中，还包括中间导向板，所述中间导向板与所述上导向板的侧面间隔相对设置，所述上导向板上设有第一调节件，用于调节所述上导向板相对所述中间导向板移动。

在其中一个实施例中，所述侧导向板与所述载板通过弹性件连接，所述侧导向板远离所述载板一面设有夹具。

在其中一个实施例中，所述侧导电针和所述上导电针内设有弹性件。

在其中一个实施例中，还包括下压组件，所述下压组件与所述上导向板远离所述载板的一面抵接，所述下压组件上设有第二调节件，用于调节所述下压组件相对所述载板移动，所述上导向板与所述载板弹性连接。

在其中一个实施例中，还包括底板，所述载板设于所述底板上，所述底板远离所述载板的一面设有缓冲件；所述底板上设有定位柱，所述下压组件上设有与所述定位柱对应的定位孔。

本发明的有益效果如下：

使用该电子元件老化测试装置，无需将电子元件焊接在PCB板上进行老化测试，只需将电子元件放置于安装槽中，通过侧导电针和中间导电板分别与电子元件的两个端电极电连接，用于进行电流测试，上导电针与电子元件的中间电极电连接，用于进行电压测试，不损伤产品，因此可对所有产品进行测试，有效杜绝产品缺陷，使用方便快捷，稳定准确，可批量化测试，提高工作效率，降低成本。上导向板可调节其相对中间导向板的位置，从而使上导电针与电子元件的中间电极定位准确，提高稳定性。

附图说明

图1为一实施例的电子元件老化测试装置的侧面剖视图；

图2为一实施例的电子元件老化测试装置的结构示意图；

图3为一实施例的电子元件老化测试装置的载板的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“安装于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连通”另一个元件，它可以是直接连通到另一个元件或者可能同时存在居中元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

一实施例的电子元件老化测试装置，如图1和图2所示，包括载板10和侧导向板20。

载板10的一面设有安装槽11，参阅图3，用于固定电子元件。安装槽11的一侧设有用于与电子元件端电极电连接的中间导电板12，安装槽11侧壁上开设有通孔13。具体地，中间导电板12上的导电铜片与电子元件的端电极电连接，还设有方便连接外接电源的接口。

侧导向板20位于载板10的一侧，可相对载板10移动。侧导向板20上固设有侧导电针21，侧导电针21的一端可通过通孔13伸入安装槽11，用于与电子元件的另一端电极电连接。

使用该电子元件老化测试装置，无需将电子元件焊接在PCB板上进行老化测试，只需将电子元件放置于安装槽11中，通过侧导电针21和中间导电板12分别与电子元件的两个端电极电连接，将侧导电针21和中间导电板12与外接电源连接即可进行电流老化测试，不损伤产品，因此可对所有产品进行测试，有效杜绝产品缺陷，使用方便快捷。

优选地，侧导电针21为多个，并排间隔固设于侧导向板20上，从而可同时对多个电子元件进行电流老化测试，提高效率。

优选地，安装槽11的上方设有可相对安装槽11移动的上导向板30，上导向板30上固设有用于与电子元件的中间电极电连接的上导电针31。通过上导电针31与中间电极电连接，将上导电针31与外接电源连接，侧导电针21或中间导电板12与外接电源连接，即可进行电压老化测试。同时将上导电针31、侧导电针21和中间导电板12与外接电源连接即可同时进行电流老化测试和电压老化测试。进一步地，上导向板30上设有方便连接外接电源的接口，方便给上导电针31通电。

优选地，安装槽11为多个，并排间隔设于载板10上，从而便于准确放置电子元件，上导电针31为多个，并排间隔固设于上导向板30上，可同时对多个电子产品进行电压老化测试。

优选地，中间导电板12将安装槽11分成两列，侧导向板20的数量为2个，位于载板10的两侧，上导向板30的数量为两个，分别位于一列安装槽11的上方。由此进一步增加同时可进行老化测试的电子元件数量，提高测试效率。

优选地，该装置还包括中间导向板40，中间导向板40与上导向板30的侧面间隔相对设置，中间导向板40与上导向板30的延伸方向相同，上导向板30上设有第一调节件32如调节螺丝，用于调节上导向板30相对中间导向板40移动。具体地，每个上导向板30上设有两个第一调节件32，分别位于上导向板30的两端。因此通过调节上导向板30相对中间导向板40移动，可微调上导电针31的位置，使上导电针31与电子元件的中间电极准确定位，提高测试的稳定性和准确性。

优选地，侧导向板20与载板10通过弹性件连接，侧导向板20远离载板10一面设有夹具22如快速夹。通过夹紧夹具22可以方便的使侧导向板20靠近载板10，从而使侧导电针21通过通孔13与安装槽11内的电子元件的端电极电连接，松开夹具22时，弹性作用又能使侧导向板20远离载板10，从而使侧导电针21与电子元件的端电极断开连接。具体地，侧导向板20与载板10正向对应的一面设有导向槽23，载板10上设有导向柱14，导向柱14伸入导向槽23中，载板10与侧导向板20之间通过弹簧24连接，弹簧24套设于导向柱14。进一步地，侧导向板20上设有与侧导电针21电连接的侧导电板25，侧导电板25上设有方便连接外接电源的接口。

优选地，侧导电针21和上导电针31内设有弹性件如弹簧，从而在弹性作用下使每一根侧导电针21、上导电针31分别与对应的电子元件的端电极、中间电极连接更稳定。

优选地，该装置还包括下压组件50，下压组件50与上导向板30远离载板10的一面抵接，下压组件50上设有第二调节件51如蝶形螺丝，用于调节下压组件50相对载板10移动，上导向板30与载板10弹性连接。通过调节下压组件50向下靠近载板10，从而下压上导向板30靠近载板10，使上导电针31与安装槽11内的电子元件的中间电极连接，调节下压组件50远离载板10时，弹性作用自然使上导向板30远离载板10，从而上导电针31与中间电极断开连接。具体地，下压组件50包括压块52和支撑板53，压块52为T型，与上导向板30远离载板10的一面抵接，支撑板53则与压块52远离上导向板30的一面连接，第二调节件51设于支撑板53上。

优选地，该装置还包括底板60，载板10设于底板60上，底板60远离载板载板10的一面设有缓冲件61如脚垫，具体地，缓冲件61为四个。底板60和缓冲件61使该装置更稳定，不易晃动。

优选地，底板60上设有定位柱62，下压组件50上设有与定位柱62对应的定位孔54，具体地，定位柱62为4个。定位柱62穿过定位孔54，起导向作用，使下压组件50相对载板10移动时更平稳。

在使用该电子元件老化测试装置时，将电子元件放置于安装槽11中，中间导电板12则与安装槽11中的电子元件的一个端电极电连接。放置完毕后，夹紧夹具22，推动侧导向板20向载板10靠近，使侧导电针21与对应安装槽11中的电子元件的另一个端电极电连接，将中间导电板12与侧导电针21连接外接电源，即可进行电流老化测试。根据需要可以通过调节第一调节件32微调上导电针31的位置，使上导电针31对准电子元件的中间电极，可适应不同规格的电子元件。调节第二调节件51使下压组件50向下靠近载板10，从而下压上导向板30靠近载板10，使上导电针31与安装槽11内的电子元件的中间电极连接，将上导电针31与外接电源连接，侧导电针21或中间导电板12与外接电源连接，即可进行电压老化测试。同时将上导电针31、侧导电针21和中间导电板12与外接电源连接即可同时进行电流老化测试和电压老化测试。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。