过压检测电路的制作方法

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种过压检测电路。

背景技术：

大多数的反激式开关电源电路中会增加开环检测的功能，其原理是开环时次级电压升高，辅助绕组的电压也会随之升高，那么，可以通过检测辅助绕组的电压来检测次级电压，从而检测开环状态。如图1所示为常见的开环检测电路，辅助绕组电压输入到电源管理芯片的VCC端，当VCC端的电压超过一定数值时，Latch脚的电压降低关断电源。此种方法中，可能存在由于负载增加而导致次级电压升高而关断电源的误操作，这就使得反激式开关电源在开环检测时需要设置较高的检测电压，但设置较高的检测电压有可能会损坏电路中的器件，从而导致可靠性不足。

技术实现要素：

基于此，为解决传统技术中反激式开关电源在开环时输出电压升高可能造成器件损坏的技术问题，特提出了一种过压检测电路。

一种过压检测电路，其特征在于，所述过压检测电路包括一端与电压输出端连接的第一电阻以及与所述第一电阻串联的第二电阻，且所述第二电阻的另一端接地；

所述过压检测电路还包括一端与所述电压输出端连接的第三电阻以及阴极与所述第三电阻的另一端连接的可控精密稳压源，且所述可控精密稳压源的阳极接地，所述可控精密稳压源的参考极与所述第一电阻和所述第二电阻的连接端连接；

所述过压检测电路还包括输入端与所述第三电阻并联的光耦，所述光耦的阴极与所述可控精密稳压源的阴极连接，所述光耦的发射极接地，所述光耦的集电极与电源管理芯片的Latch端口连接。

可选的，所述过压检测电路还包括与所述第三电阻串联的第四电阻，所述第四电阻的另一端与所述电压输出端连接。

可选的，所述过压检测电路还包括一端与所述光耦的集电极连接的第五电阻，所述第五电阻的另一端与所述电源管理芯片的Latch端口连接。

可选的，所述过压检测电路还包括阴极与所述光耦的集电极连接的稳压二极管，所述稳压二极管的阳极接地。

可选的，所述可控精密稳压源为TL432芯片。

本发明的另一方面还提出了一种过压检测电路，其特征在于，所述过压检测电路包括一端与电压输出端连接的第一电阻以及与所述第一电阻串联的第二电阻，且所述第二电阻的另一端接地；

所述过压检测电路还包括第三电阻以及可控精密稳压源，所述第三电阻一端与所述电压输出端连接，所述第三电阻的另一端与所述可控精密稳压源的阴极连接，且所述可控精密稳压源的阳极接地，所述可控精密稳压源的参考极与所述第一电阻和所述第二电阻的连接端连接；

所述过压检测电路还包括输入端线圈与所述第三电阻并联的继电器，所述继电器的负极与所述可控精密稳压源的阴极连接，所述继电器常开触点的一端接地，所述继电器常开触点的另一端与电源管理芯片的Latch端口连接。

可选的，所述过压检测电路还包括与所述第三电阻串联的第四电阻，所述第四电阻的另一端与所述电压输出端连接。

可选的，所述过压检测电路还包括一端与所述继电器常开触点的一端连接的第五电阻，所述第五电阻的另一端与所述电源管理芯片的Latch端口连接。

可选的，所述过压检测电路还包括阴极与所述继电器常开触点的一端连接的稳压二极管，所述稳压二极管的阳极接地。

可选的，所述可控精密稳压源为TL432芯片。

本发明的另一方面还提出了一种电子装置，其特征在于，所述电子装置包括反激式开关电源电路及负载，以及与所述反激式开关电源负载并联的过压检测电路，所述过压检测电路的一端与所述反激式开关电源的电压输出端连接，所述过压检测电路的另一端与所述反激式开关电源中的电源管理芯片的Latch端口连接。

本发明的另一方面还提出了一种过压检测电路的方法，包括：

将待检测的电压输出端和电源管理芯片的Latch端口接入所述过压检测电路；

在所述电压输出端的电压高于与所述过压检测电路的可控精密稳压源的导通电压对应的门限值时，所述过压检测电路的可控精密稳压源的阳极和阴极导通；

第三电阻上有电流通过，与所述第三电阻并联的光耦/继电器导通；

通过第五电阻向所述电源管理芯片的Latch端口传递电信号；

所述电源管理芯片根据所述Latch端口接收到的电信号判定所述电压输出端过压。

实施本发明实施例，将具有如下有益效果：

在上述反激开关电源电路上增加该过压检测电路后，当电压输出端的电压升高时，第二电阻R2两端的电压升高，从而使得可控精密稳压源U6参考极电压升高，当达到较低的检测电压时，可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通，从而使得光耦的A、K极导通，进而向电源管理芯片的Latch脚发送电压信号，最终将反激式开关电源关断。由此可看出，上述过压检测电路可设置较低的开环检测电压，避免损坏电路中的器件，从而提高电路的可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中的一种开环检测电路的示意图；

图2为本发明提出的一种过压检测电路第一实施例的示意图；

图3为本发明提出的一种过压检测电路第二实施例的示意图；

图4为本发明提出的一种过压检测电路第三实施例的装置图；

图5为本发明提出的一种过压检测电路方法的步骤图；

图6为本发明提出的一种过压检测电路第四实施例的结构框图；

图7为本发明提出的一种过压检测电路第四实施例的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

反激式开关电源在开环时次级电压升高，辅助绕组的电压也会随之升高，那么，可以通过检测辅助绕组的电压来检测次级电压，从而检测开环状态。图1为现有技术中的一种开环检测电路的示意图，包括VCC端口与辅助绕组输入电压连接的电源管理芯片U1、阴极与电源管理芯片U1的VCC端口连接的稳压二极管ZD2，以及，一端与电源管理芯片U1的Latch端口及稳压二极管ZD2的阳极连接的电容C10，电容C10的另一端接地。当VCC端的电压超过一定数值时，Latch脚的电压降低关断电源，从而实现开环检测的目的。而在实际过程中，可能存在由于负载增加而导致次级电压升高而关断电源的误操作，这就使得反激式开关电源在开环检测时需要设置较高的检测电压，但设置较高的检测电压有可能会损坏电路中的器件。为解决传统技术中反激式开关电源在开环时输出电压升高可能造成器件损坏的技术问题，在本实施例中特提出了一种过压检测电路，以下将结合附图进行描述。

参见图2，为本发明提出的一种过压检测电路第一实施例的示意图，包括一端与电压输出端连接的第一电阻R1以及与所述第一电阻R1串联的第二电阻R2，且所述第二电阻R2的另一端接地；还包括一端与所述电压输出端连接的第三电阻R3以及阴极与所述第三电阻R3的另一端连接的可控精密稳压源U6，且所述可控精密稳压源U6的阳极接地，所述可控精密稳压源U6的参考极与所述第一电阻R1和所述第二电阻R2的连接端连接；还包括输入端与所述第三电阻R3并联的光耦U5，所述光耦U5的阴极与所述可控精密稳压源U6的阴极连接，所述光耦U5的发射极接地，所述光耦U5的集电极与电源管理芯片U2的Latch端口连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括与所述第三电阻R3串联的第四电阻R4，所述第四电阻R4的另一端与所述电压输出端连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括一端与所述光耦U5的集电极连接的第五电阻R5，所述第五电阻R5的另一端与所述电源管理芯片U2的Latch端口连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括阴极与所述光耦U6的集电极连接的稳压二极管ZD3，所述稳压二极管ZD3的阳极接地。

在本实施例中，上述可控精密稳压源U6为TL432芯片。

需要说明的是，上述可控精密稳压源U6采用TL432芯片，仅为本技术方案优选的实施方式，本技术方案还可以选择其他型号和参数的元器件。

在本实施例中，当电压输出端的电压升高时，第一电阻R1和第二电阻R2两端的电压升高，与第二电阻R2一端连接的可控精密稳压源U6的参考极电压随之升高，超过一定值之后可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通，第三电阻R3和第四电阻R4中有电流通过，第三电阻R3两端产生电压，此时与第三电阻R3并联的光耦U5中的发光二极管导通，经过电-光-电的转换，光耦U5中三极管的集电极与发射极之间导通，电源管理芯片U2的Latch端口的电压下降，控制电源停止工作，实现开环保护的功能。同时，通过调节第一电阻R1和第二电阻R2的值，可以设置较低的开环检测电压，而不会损坏电路中的器件，从而提高电路的可靠性。

参见图3，为本发明提出的一种过压检测电路第二实施例的示意图，包括一端与电压输出端连接的第一电阻R1以及与所述第一电阻R1串联的第二电阻R2，且所述第二电阻R2的另一端接地；还包括一端与所述电压输出端连接的第三电阻R3以及阴极与所述第三电阻R3的另一端连接的可控精密稳压源U6，且所述可控精密稳压源U6的阳极接地，所述可控精密稳压源U6的参考极与所述第一电阻R1和所述第二电阻R2的连接端连接；还包括输入端线圈与所述第三电阻R3并联的继电器KV，所述继电器KV的负极与所述可控精密稳压源U6的阴极连接，所述继电器KV常开触点的一端接地，所述继电器KV常开触点的另一端与电源管理芯片U2的Latch端口连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括与所述第三电阻R3串联的第四电阻R4，所述第四电阻R4的另一端与所述电压输出端连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括一端与所述继电器KV常开触点的一端连接的第五电阻R5，所述第五电阻R5的另一端与所述电源管理芯片U2的Latch端口连接。

在本实施例中，上述过压检测电路还包括阴极与所述继电器KV常开触点的一端连接的稳压二极管ZD3，所述稳压二极管ZD3的阳极接地。

在本实施例中，上述可控精密稳压源U6为TL432芯片。

需要说明的是，上述可控精密稳压源U6采用TL432芯片，仅为本技术方案优选的实施方式，本技术方案还可以选择其他型号和参数的元器件。

在本实施例中，当电压输出端的电压升高时，第一电阻R1和第二电阻R2两端的电压升高，与第二电阻R2一端连接的可控精密稳压源U6的参考极电压随之升高，超过一定值之后可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通，第三电阻R3和第四电阻R4中有电流通过，第三电阻R3两端产生电压，此时与第三电阻R3并联的继电器KV的线圈中流过一定的电流，从而产生电磁感应，继电器中的衔铁在磁力作用下带动常开触点闭合，电源管理芯片U2的Latch端口的电压下降，控制电源停止工作，实现开环保护的功能。同时，通过调节第一电阻R1和第二电阻R2的值，可以设置较低的开环检测电压，而不会损坏电路中的器件，从而提高电路的可靠性。

参见图4，为本发明提出的一种过压检测电路第三实施例的装置图，包括反激式开关电源电路及负载，以及与所述反激式开关电源负载并联的过压检测电路，所述过压检测电路的一端与所述反激式开关电源的电压输出端连接，所述过压检测电路的另一端与所述反激式开关电源中的电源管理芯片的Latch端口连接。

采用上述过压检测电路可设置较低的开环检测电压，而不会损坏电路中的器件，从而提高电路的可靠性。

参见图5，为本发明提出的一种过压检测电路方法的步骤图，包括：

步骤S102：将待检测的电压输出端和电源管理芯片U2的Latch端口接入所述过压检测电路。

步骤S104：在所述电压输出端的电压高于与所述过压检测电路的可控精密稳压源U6的导通电压对应的门限值时，所述过压检测电路的可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通。

电压输出端的电压经过第一电阻R1和第二电阻R2分压之后，第二电阻R2两端的电压即为可控精密稳压源U6的参考极电压，可以通过调节第一电阻R1和第二电阻R2的值，来精确控制电压输出端的最大电压值。

步骤S106：第三电阻R3上有电流通过，与所述第三电阻R3并联的光耦U5/继电器KV导通，通过第五电阻R5向所述电源管理芯片U2的Latch端口传递电信号。

在可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通后，第三电阻R3和第四电阻R4支路有电流通过，与第三电阻R3两端并联的光耦U5/继电器KV两端产生电压，当电压值超过光耦U5中的二极管的导通电压或继电器KV中的控制电压值时，光耦U5/继电器KV导通，第五电阻R5上有电流通过，与第五电阻R5相连的电源管理芯片U2的Latch端口的电压被拉低。

步骤S108：所述电源管理芯片U2根据所述Latch端口接收到的电信号判定所述电压输出端过压。

电源管理芯片U2接收到Latch端口的电信号之后，即可判定电压输出端过压，向反激式开关电源电路发送控制信号将电路关闭，从而实现保护电路器件的功能。

参见图6，为本发明提出的一种过压检测电路第四实施例的结构框图，包括交流输入端102、硅桥104、高压电容106、变压器108、电源管理芯片110、开关MOS管112、整流二极管114、滤波电路116、反馈电路118和检测电路120。交流电通过硅桥104后转化为直流电，高压电容106进行滤波，电源管理芯片110通过控制MOS管112的导通与关断，变压器108从而将初级能量传递给次级。本发明相比于其他的反激式开关电源，增加了检测电路120，可以精确控制开环时反激式开关电源输出电压的最大值，有效地保护电路中的器件，提高电路的可靠性。

参见图7，为本发明提出的一种过压检测电路第四实施例的示意图，在反激开关电源电路上增加过压检测电路后，当电压输出端的电压升高时，电阻R49两端的电压升高，从而使得可控精密稳压源U6参考极电压升高，当达到较低的检测电压时，可控精密稳压源U6的阳极和阴极导通，从而使得光耦的A、K极导通，进而向电源管理芯片的Latch脚发送电压信号，最终将反激式开关电源关断。由此可看出，上述过压检测电路可设置较低的开环检测电压，而不会损坏电路中的器件，从而提高电路的可靠性。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。