一种霍尔组件检测装置及其检测方法与流程

文档序号:11112104 阅读:754 来源:国知局
一种霍尔组件检测装置及其检测方法与制造工艺

本发明涉及设备检测技术领域,更具体的说,涉及一种霍尔组件检测装置及其检测方法。



背景技术:

为保证电机的安全稳定运行,在电机出厂前通常需要对电机的各元器件进行检测,而电机检测的核心是对霍尔组件的输出参数(包括:电压、电流、频率、占空比、周期、高低脉冲、电容值等)进行检测。

目前对霍尔组件的输出参数的检测方法是:首先使用稳压电源给霍尔组件提供5V工作电压,然后采用示波器和电流表获取霍尔组件的输出参数,并将各参数值进行显示,最后检测人员用眼睛观察识别示波器上显示的参数值和波形,以及电流表上显示的电流值,并根据各参数值及波形判断被测霍尔组件是否合格,以查找出不合格的霍尔组件。

由于检测人员每天需要检测的霍尔组件的数量高达几千件,因此频繁的检测操作以及长时间连续工作很容易导致检测人员身心疲惫,容易出现因对各参数值和/或波形读数错误导致对霍尔组件误判的情况。所以如何提供一种霍尔组件检测装置以减少检测人员的操作强度,并提高霍尔组件的检测准确度是本领域技术人员亟待解决的问题。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明公开一种霍尔组件检测装置及其检测方法,以实现在对霍尔组件进行检测时,减少检测人员的操作强度,并提高霍尔组件的检测准确度。

一种霍尔组件检测装置,包括:

微控制单元,所述微控制单元具有信号采集端口和信号控制端口;

用于采集被测霍尔组件的输出参数的采集电路,所述采集电路的输出端与所述信号采集端口连接,所述信号采集端口用于采集所述输出参数;

一端用于与放置所述被测霍尔组件的PG板接口连接,为所述被测霍尔组件提供电源PG信号的信号PG输入接口,所述信号PG输入接口的另一端与所述采集电路的输入端连接;

与所述信号控制端口连接,用于对所述信号控制端口的输出信息进行显示的显示屏,所述信号控制端口用于输出所述微控制单元采集的所述输出参数,以及根据所述输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围的比较结果得到的所述被测霍尔组件是否合格的检测结果。

优选的,所述采集电路包括:

用于采集被测霍尔组件的输出电压参数的电压采集电路,所述电压采集电路的输入端与所述信号PG输入接口连接,所述电压采集电路的输出端与所述信号采集端口连接,所述信号采集端口用于采集所述输出电压参数;

用于采集所述被测霍尔组件的输出频率参数的频率采集电路,所述频率采集电路的输入端与所述信号PG输入接口连接,所述频率采集电路的输出端与所述信号采集端口连接,所述信号采集端口用于采集所述输出频率参数;

用于采集所述被测霍尔组件的输出电流波形参数的波形采集电路,所述波形采集电路的输入端与所述信号PG输入接口连接,所述波形采集电路的输出端与所述信号采集端口连接,所述信号采集端口用于采集所述输出电流波形参数;

用于采集所述被测霍尔组件的输出电容参数的电容采集电路,所述电容采集电路的输入端与所述信号PG输入接口连接,所述电容采集电路的输出端与所述信号采集端口连接,所述信号采集端口用于采集所述输出电容参数。

优选的,还包括:

与所述信号控制端口连接,用于对所述输出信息进行存储的存储单元。

优选的,还包括:

与所述信号控制端口连接,用于在所述输出信息中包含有报警控制信号时,根据所述报警控制信号报警的报警器。

优选的,所述报警器包括:声音报警器。

优选的,所述报警器包括:

用于在接收到用户输入的停止报警指令才停止报警的按键报警电路。

一种霍尔组件检测方法,应用于上述所述的霍尔组件检测装置,所述检测方法包括:

获取被测霍尔组件的输出参数;

将所述输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,对所述被测霍尔组件是否合格进行检测,并得到检测结果;

输出并在显示屏显示所述输出参数和所述检测结果。

优选的,所述输出参数包括:所述被测霍尔组件在静态测试时的输出参数以及在动态测试时的输出参数。

优选的,所述将所述输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,对所述被测霍尔组件是否合格进行检测,并得到检测结果包括:

将各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,判断所有参数值是否均在对应的参数阈值范围内;

若所有参数值均在对应的参数阈值范围内,则将判定所述被测霍尔组件合格作为所述检测结果;

若存在数值不在对应的参数阈值范围内的参数值,则将判定所述被测霍尔组件不合格作为所述检测结果。

优选的,在判定所述被测霍尔组件不合格后,还包括:

对不在对应的参数阈值范围内的参数值进行标注,并在所述显示屏显示。

优选的,当所述霍尔组件检测装置还包括报警器时,在判定所述被测霍尔组件不合格后,还包括:

生成报警控制信号;

将所述报警控制信号输出至所述报警器,控制所述报警器报警。

优选的,在判定所述被测霍尔组件合格后,还包括:

生成断电控制信号;

将所述断电控制信号输出至信号PG输入接口,控制所述信号PG输入接口停止向所述被测霍尔组件输出电源PG信号。

优选的,在所述得到检测结果之后,还包括:

判断所述检测结果的类型,当所述检测结果的类型表征所述被测霍尔组件检测合格时,对第一计数值加一;当所述检测结果的类型表征所述被测霍尔组件不合格时,对第二计数值加一,所述第一技术值和所述第二计数值的初始值均为零。

优选的,当所述霍尔组件检测装置还包括存储单元时,在所述得到检测结果之后,还包括:

将所述输出参数和所述检测结果输出至所述存储单元进行保存。

从上述的技术方案可知,本发明公开了一种霍尔组件检测装置及其检测方法,检测装置包括微控制单元、采集电路、信号PG输入接口和显示屏,当对被测霍尔组件进行检测时,只需将被测霍尔组件放置在PC板接口,然后将PC板接口与信号PG输入接口连接,检测装置就会对被测霍尔组件是否合格进行自动检测,并在显示屏显示检测结果以及被测霍尔组件的输出参数。由此可知,本发明公开的检测装置实现了对霍尔组件的自动检测,相比现有技术而言,本发明在对霍尔组件进行检测时,大大降低了检测人员的操作强度,同时还有效避免了因检测人员读数错误而导致对霍尔组件误判的情况,提高了对霍尔组件的检测准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据公开的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例公开的一种霍尔组件检测装置的结构示意图;

图2为本发明实施例公开的另一种霍尔组件检测装置的结构示意图;

图3为本发明实施例公开的一种霍尔组件检测方法的方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明实施例公开了一种霍尔组件检测装置及其检测方法,以实现在对霍尔组件进行检测时,减少检测人员的操作强度,并提高霍尔组件的检测准确度。

参见图1,本发明实施例公开的一种霍尔组件检测装置的结构示意图,该检测装置包括:微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)10、采集电路20、信号PG输入接口30和显示屏40。

其中:

MCU10具有信号采集端口和信号控制端口。

信号PG输入接口30的一端用于与放置被测霍尔组件的PG板接口连接,以为被测霍尔组件提供电源PG信号,信号PG输入接口30的另一端与采集电路20的输入端连接。

需要说明的是,电源PG信号是电源Power Good信号的简称,是直流输出电压检测信号和交流输入电压检测信号的逻辑,与TTL(Transistor Transistor Logic,晶体管)信号兼容。本发明中,电源PG信号用于为被测霍尔组件提供电源信号,其中,当电源PG信号包含有PG信号且PG信号的时序正确时,才能作为被测霍尔组件的电源信号。

采集电路20的输出端与MCU10的信号采集端口连接,采集电路20用于采集被测霍尔组件的输出参数,并通过信号采集端口输出至MCU10。

其中,被测霍尔组件的输出参数包括:电流、周期、频率、高脉冲、低脉冲、占空比、电容量等。

显示屏40与MCU10的信号控制端口连接,显示屏40用于对信号控制端口的输出信息进行显示,其中,信号控制端口用于输出MCU10采集的输出参数,以及根据输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围的比较结果得到的被测霍尔组件是否合格的检测结果。

为方便理解,本发明还公开了采用霍尔组件检测装置对被测霍尔组件的检测过程,具体如下:

(1)将霍尔组件检测装置的电源端50与AC220V电源接通,使霍尔组件检测装置处于开机状态;

需要说明的是,在霍尔组件检测装置处于开机状态后,显示屏40上会显示被测霍尔组件的各被检测参数,这样可以方便检查人员查看各被检测参数是否与被测霍尔组件的型号对应,从而有效避免因各被检测参数与被测霍尔组件的型号不对应而导致的误判。

(2)设置被测霍尔组件的各被测参数的上限值和下限值,得到各被测参数的参数阈值范围,此时霍尔组件检测装置处于正常工作状态;

(3)将放置有被测霍尔组件的PG板接口插入信号PG输入接口30(可以认为是检测座),霍尔组件检测装置将自动对被测霍尔组件进行静态测试,该静态测试主要包括对被测霍尔组件在静态测试(包括静态电阻和电容回路检测)时的输出参数进行检测。当对被测霍尔组件静态测试完成后,将被测霍尔组件安装在电机内,并在电机工作的情况下,对被测霍尔组件进行动态测试,该动态测试主要包括对被测霍尔组件在动态测试时的输出参数(主要是波形参数)进行检测。

(4)MCU10通过将获取的被测霍尔组件的输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,判断被测霍尔组件是否合格,并得到对应的检测结果。

其中,当被测霍尔组件的所有参数值均在对应的参数阈值范围内时,得到表征被测霍尔组件合格的检测结果;当被测霍尔组件的所有参数值中,存在数值不在对应参数阈值范围的参数值时,得到表征被测霍尔组件不合格的检测结果。

(5)将被测霍尔组件的输出参数以及检测结果均在显示屏40显示,以便检测人员查看。

综上可知,本发明公开的霍尔组件检测装置在对被测霍尔组件进行检测时,只需将被测霍尔组件放置在PC板接口,然后将PC板接口与信号PG输入接口30连接,检测装置就会对被测霍尔组件是否合格进行自动检测,并在显示屏40显示检测结果以及被测霍尔组件的输出参数。由此可知,本发明公开的检测装置实现了对霍尔组件的自动检测,相比现有技术而言,本发明在对霍尔组件进行检测时,大大降低了检测人员的操作强度,同时还有效避免了因检测人员读数错误而导致对霍尔组件误判的情况,提高了对霍尔组件的检测准确度。

另外,相比现有技术手动检测霍尔组件而言,本发明通过对霍尔组件进行自动检测还提高了对霍尔组件的检测效率。

需要说明的是,本发明中的霍尔组件检测装置还具备掉电记忆功能。

优选的,显示屏40可以采用抗干扰强度等级较高的60*80显示屏,以有效减少因测试干扰造成的显示乱码等现象。

优选的,为提高对被测霍尔组件的输出波形参数的采样精度,MCU10可以采用高速单片机,这样MCU10对被测霍尔组件的输出波形参数的采集精度可以达到0.01us。

为进一步优化上述实施例,参见图2,本发明另一实施例公开的一种霍尔组件检测装置的结构示意图,与图1所示实施例不同的是,采集电路20具体包括:电压采集电路21、频率采集电路22、波形采集电路23和电容采集电路24。

其中:

电压采集电路21的输入端与信号PG输入接口30连接,电压采集电路21的输出端与MCU10的信号采集端口连接,电压采集电路21用于采集被测霍尔组件的输出电压参数,并通过信号采集端口将输出电压参数输出至MCU10。

频率采集电路22输入端与信号PG输入接口30连接,频率采集电路22的输出端与MCU10的信号采集端口连接,频率采集电路22用于采集被测霍尔组件的输出频率参数,并通过信号采集端口将输出频率参数输出至MCU10。

波形采集电路23的输入端与信号PG输入接口30连接,波形采集电路23的输出端与MCU10的信号采集端口连接,波形采集电路23用于采集被测霍尔组件的输出电流波形参数,并通过信号采集端口将输出电流波形参数输出至MCU10。

需要说明的是,波形采集电路23采集的被测霍尔组件的输出电流波形参数为对被测霍尔组件进行动态测试时的电流波形参数,根据该输出电流波形参数可以得到被测霍尔组件的输出电流、周期、占空比、频率、高脉冲和低脉冲。

其中,在实际应用中,输出电流波形参数能够按照预设比例在显示屏40上动态显示,霍尔组件检测装置对电流的采样率可以为2000次/秒。

电容采集电路24的输入端与信号PG输入接口30连接,电容采集电路24的输出端与MCU10的信号采集端口连接,电容采集电路24用于采集被测霍尔组件的输出电容参数,并通过信号采集端口将输出电容参数输出至MCU10。

其中,被测霍尔组件的输出参数中各参数的测量范围、精度以及参数阈值范围可参见表1中示出的数值,这些数值在实际应用中可依据实际情况进行修改,表1具体如下:

表1

需要说明的是,电压采集电路21、频率采集电路22、波形采集电路23和电容采集电路24可以连接至MCU10的同一个信号采集端口,也可以分别连接一个MCU10的信号采集端口,具体依据实际需要而定,本发明在此不做限定。

为进一步优化上述实施例,霍尔组件检测装置还可以包括:存储单元60;

存储单元60与MCU10的信号控制端口连接,用于对MCU10的输出信息进行存储。

本领域技术人员都公知的是,MCU10本身具有存储功能,能够对MCU10运行程序时所需的数据进行存储,但是,MCU10本身的存储空间有限,同时若MCU10本身存储数据过多,将会影响MCU10的运行速度,因此,本发明通过增加存储单元60来分担MCU10中的存储数据,以提高MCU10的运行速度。

为进一步优化上述实施例,霍尔组件检测装置还可以包括:报警器70;

报警器70与MCU10的信号控制端口连接,用于在MCU10的输出信息中包含有报警控制信号时,根据所述报警控制信号报警。

当霍尔组件检测装置检测到被测霍尔组件的输出参数中,存在数值不在对应参数阈值范围的参数时,表明被测霍尔组件不合格,在这种情况下,霍尔组件检测装置可以采用报警的形式告知检测人员。

报警器70可以选用声音报警器,例如语音报警器。

为方便检测人员查看被测霍尔组件中不满足参数阈值范围的参数,本发明公开的霍尔组件检测装置还可以对不满足参数阈值范围的参数进行标记,例如,对该参数进行反显变黑,并将标记后的参数在显示屏40中显示。

为避免霍尔组件检测装置检测出不合格霍尔组件后,检测人员因某些原因(例如离开检测现场)未听见报警声音,而误将不合格的霍尔组件归类到合格的霍尔组件中,本发明中的报警器70还包括按钮报警电路。

当霍尔组件检测装置检测出不合格的霍尔组件后,报警器70会一直处于报警状态,只有检测人员按下按钮报警电路对应的按钮,报警才会解除,从而有效避免了检测人员误将不合格的霍尔组件归类到合格的霍尔组件这一情况的发生。

当被测霍尔组件检测合格时,本发明为避免在被测霍尔组件测试完成后,因热插拔被测霍尔组件而造成被测霍尔组件损坏的情况,霍尔组件检测装置在测试被测霍尔组件合格后,还会生成一个断电控制信号,通过将该断电控制信号输出至信号PG输入接口30,控制信号PG输入接口30停止向被测霍尔组件输出电源PG信号。

另外,由于每天需要检测的霍尔组件高达几千件,因此方便统计合格的霍尔组件数量以及不合格霍尔组件数量,本发明公开的霍尔组件检测装置还具备对合格霍尔组件和不合格霍尔组件的计数功能。

具体的,当MCU10判定检测结果的类型表征被测霍尔组件检测合格时,对第一计数值加一;当MCU10判定检测结果类型表征被测霍尔组件检测不合格时,对第二计算值加一,其中,第一计数值和第二计数值的初始值均为零。

其中,本发明公开的霍尔组件检测装置还可以根据显示屏40显示的波形判定波形抖动特性,具体判定过程可参见现有技术中示波器对波形抖动的判定过程,此处不再赘述。

与上述装置实施例相对应,本发明还公开了一种霍尔组件检测方法。

参见图3,本发明实施例公开的一种霍尔组件检测方法的方法流程图,该检测方法应用于上述实施例中的霍尔组件检测装置,具体应用与MCU10,该检测方法包括步骤:

步骤S11、获取被测霍尔组件的输出参数;

需要说明的是,被测霍尔组件的输出参数包括:被测霍尔组件在静态测试时的输出参数以及在动态测试时的输出参数,输出参数具体包括:电流、周期、频率、高低脉冲、占空比、电容量等。

步骤S12、将所述输出参数中的各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,对所述被测霍尔组件是否合格进行检测,并得到检测结果;

步骤S13、输出并在显示屏40显示所述输出参数和所述检测结果。

综上可知,本发明通过将采集的被测霍尔组件的输出参数中的各参数值,和对应的参数阈值范围进行比较,实现对被测霍尔组件的自动检测,相比现有技术而言,本发明在对霍尔组件进行检测时,大大降低了检测人员的操作强度,同时还有效避免了因检测人员读数错误而导致对霍尔组件误判的情况,从而提高了对霍尔组件的检测准确度。

另外,相比现有技术手动检测霍尔组件而言,本发明通过对霍尔组件进行自动检测还提高了对霍尔组件的检测效率。

为进一步优化上述实施例,步骤S12具体可以包括步骤:

将各参数值和对应的参数阈值范围进行比较,判断所有参数值是否均在对应的参数阈值范围内;

若所有参数值均在对应的参数阈值范围内,则将判定所述被测霍尔组件合格作为所述检测结果;

若存在数值不在对应的参数阈值范围内的参数值,则将判定所述被测霍尔组件不合格作为所述检测结果。

综上可知,被测霍尔组件只要有一个参数值不在对应的参数阈值范围内,则判定被测霍尔组件不合格。

为方便检测人员查看被测霍尔组件的不合格参数,当霍尔组件检测装置判定当前检测的被测霍尔组件不合格后,还会对对不在对应的参数阈值范围内的参数值进行标注,并在显示屏40显示。

其中,对不合格参数的标注形式可以依据实际需要而定,例如,对不合格参数进行反显变黑,具体可依据实际需要而定。

当霍尔组件检测装置检测到被测霍尔组件的输出参数中,存在数值不在对应参数阈值范围的参数时,表明被测霍尔组件不合格,在这种情况下,霍尔组件检测装置可以采用报警的形式告知检测人员。

因此,在步骤判定被测霍尔组件不合格后,检测方法还可以包括步骤:

生成报警控制信号;

将所述报警控制信号输出至报警器70,控制报警器70报警。

当被测霍尔组件检测合格时,本发明为避免在被测霍尔组件测试完成后,因热插拔霍尔组件而造成被测霍尔组件损坏的情况,在步骤判定被测霍尔组件合格后,检测方法还可以包括步骤:

生成断电控制信号;

将所述断电控制信号输出至信号PG输入接口30,控制信号PG输入接口30停止向所述被测霍尔组件输出电源PG信号。

另外,由于每天需要检测的霍尔组件高达几千件,因此方便统计合格的霍尔组件数量以及不合格霍尔组件数量,本发明公开的霍尔组件检测装置还具备合格霍尔组件与不合格霍尔组件的计数功能。

因此,在步骤S12之后,检测方法还可以包括步骤:

判断所述检测结果的类型,当所述检测结果的类型表征所述被测霍尔组件检测合格时,对第一计数值加一;当所述检测结果的类型表征所述被测霍尔组件不合格时,对第二计数值加一,所述第一技术值和所述第二计数值的初始值均为零。

为方便检测人员后续查看之前检测的霍尔组件,在步骤S12之后,检测方法还可以包括步骤:

将被测霍尔组件的输出参数和所述检测结果输出至存储单元60进行保存。

最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

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