屏体检测结构及检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种屏体检测结构及检测方法。
【背景技术】
[0002]随着平面显示器技术的蓬勃发展，有源矩阵有机发光二极管(Active Matrix/Organic Light Emitting D1de，AMOLED)由于具有反应速度较快、对比度更高、视角较广等特点，被广泛引用。
[0003]影响AMOLED屏体的主要因素包括材料及设备技术能力，从材料的取得到制程处理，量产品质及良率控制，都需要有效率、精准及高稳定性的检测结构来进行监控与分析改善。同样的，在其他类型的屏体(例如TFT屏体、OLED屏体等)中，也基本类同。
[0004]目前，在屏体(Cell)检测中，采用转换(switch)方式，即屏体包括与之相连接的屏体线路(测试线路)与模组线路(应用线路)这互相独立的两部分。通常，在显示正常的情况下，只需要模组线路检测正常，就能够保证屏体能够投入实际应用中。由此引发在屏体检测时容易存在如下两种问题:一、检测结果为异常，即屏体线路不良，而模组线路正常，也就是说这一屏体是可以被接受的，但却判断为异常，此时就影响了检测准确率；二、检测结果为正常，即屏体线路正常，而模组线路是不良的，这其实是产生了漏检，将最终导致模组浪费。
【发明内容】
[0005]本发明的一个目的在于，提供一种屏体检测结构及检测方法，提高屏体检测的准确率；
[0006]本发明的另一个目的在于，提供一种屏体检测结构及检测方法，减少由于测试漏检导致的模组材料浪费。
[0007]为解决上述技术问题，本发明提供一种屏体检测结构，包括承载台及压头，所述压头与承载台相对设置且位于所述承载台上方，所述压头包括屏体压头和模组压头，所述屏体压头用于将一屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，所述模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。
[0008]可选的，对于所述的屏体检测结构，所述压头还包括一顶板，所述屏体压头和模组压头设置于所属顶板上并朝向所述承载台。
[0009]可选的，对于所述的屏体检测结构，所述屏体压头包括两部分，分列于所述模组压头两侧。
[0010]可选的，对于所述的屏体检测结构，所述模组压头与屏体压头之间存在小于2mm的间隙。
[0011]可选的，对于所述的屏体检测结构，所述压头还包括一模组压头微调器，以调整模组压头的位置。
[0012]可选的，对于所述的屏体检测结构，所述压头与承载台能够相对运动，所述屏体检测结构还包括一承载台微调器，用以调整承载台的位置。
[0013]本发明还提供一种屏体检测方法，包括:
[0014]提供如上所述的屏体检测结构；
[0015]将待测屏体放置于所述承载台上；
[0016]通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；
[0017]通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备；
[0018]分析检测结果，判断所述待测屏体是否正常。
[0019]可选的，对于所述的屏体检测方法，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备。
[0020]可选的，对于所述的屏体检测方法，所述检测设备包括计算机，通过结合检测卡进行检测。
[0021]可选的，对于所述的屏体检测方法，所述检测设备为检测芯片或单片机。
[0022]可选的，对于所述的屏体检测方法，所述第一检测设备为信号产生器。
[0023]在本发明提供的屏体检测结构及检测方法中，所述压头包括屏体压头和模组压头，通过所述屏体压头用于将屏体检测线压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，通过所述模组压头用于将模组检测线压接至待测屏体的模组检测端进行检测。相比现有技术，能够准确有效地检测出屏体是否正常，保证了检测出的屏体的准确率，并且有效避免了发生漏检的情况，降低浪费。
【附图说明】
[0024]图1为本发明中的屏体检测结构的结构示意图；
[0025]图2为本发明中的屏体的结构示意图；
[0026]图3为本发明中屏体检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0027]下面将结合示意图对本发明的屏体检测结构及检测方法进行更详细的描述，其中表示了本发明的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本发明，而仍然实现本发明的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本发明的限制。
[0028]在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0029]本发明的主要思想是，提供一种屏体检测结构及检测方法，其中屏体检测结构的压头包括屏体压头和模组压头，能够分别对屏体的屏体线路和模组线路进行检测，从而提高检测的准确率。
[0030]以下列举所述屏体检测结构及检测方法的较优实施例，以清楚的说明本发明的内容，应当明确的是，本发明的内容并不限制于以下实施例，其他通过本领域普通技术人员的常规技术手段的改进亦在本发明的思想范围之内。
[0031]请参考图1，所述屏体检测结构，例如可以应用在AMOLED屏体的检测，包括:
[0032]承载台20及压头10，所述压头10与承载台20相对设置且位于所述承载台20上方，所述压头10与承载台20能够相对运动，从而对放置于承载台20上的待测屏体进行连接检测。
[0033]如图1和图2所示，所述压头10包括屏体压头12和模组压头13，所述屏体压头12用于将一屏体检测线33与待测屏体30的屏体检测端31压接，所述模组压头13用于将一模组检测线34与待测屏体30的模组检测端32压接。所述压头10还包括一顶板11，所述屏体压头12和模组压头13设置于所属顶板11上并朝向所述承载台20。本发明的压头10的材料可以与现有技术相同，例如是金属铝。
[0034]较佳的，所述屏体压头12包括两部分，分列于所述模组压头13的两侧。所述屏体压头12可以是固定于所述顶板11上，所述模组压头13可活动。通常，所述模组压头13与屏体压头12之间存在小于2_的间隙，通